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optris CX hs LT测温仪

主要参数：

温度量程：-20°C~150°C
光谱范围：8µm~14µm
响应时间：150ms

申请试用

概述

optris CX hs LT型测温仪在测量温差小至0.025 K时设定了新性能标准。测量范围-20°C至150°C。

红外测温仪在低噪声测温仪分支中设定了新标准，并且还能在周围温度变化时提供高精度的测量结果。

产品规格

测量参数
温度量程（通过软件测量）	-20°C~150°C
光谱范围	8µm~14µm
光学分辨率（90%能量）	15:1
CF透镜（可选）	0.8mm@10mm
系统精度（环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C）	±1%或±1°C （注释1）

全部展示技术参数

重复精度（环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C）	±0.3%或±0.3°C （注释1）
温度分辨率：	0.025K（物体温度>20°C和平均值>0.2s）
响应时间（95％）	150ms（通过可选编程装置可调节999s）
发射率/增益（通过软件调节）	0.100~1.100
透射率（通过软件调节）	0.100~1.100
信号处理（仅通过可选软件可调具体参数）	峰值保持、谷值保持、平均值，延长保持阈值和滞后功能
基本参数
环境等级	IP65（NEMA-4）
环境温度	-20°C~75°C
存储温度	-40°C~85°C
相对湿度	10%~95%，不结露
震动	- IEC 60068-2-6（正弦波形）；- IEC 60068-2-64（宽频噪音）
冲击	- IEC 60068-2-27（25G和50G）
重量	350g
电气参数
模拟输出	4-20mA
报警输出	0-30V/50mA（常开）
数字输出（可选）	USB
回路电阻	Max 1000Ω （注释2）
电缆长度	8m
电源	直流5-30V
注释1	取较大值
注释2	根据电源电压

收缩

应用

optris CX hs LT型测温仪的应用领域

optris CX hs LT型测温仪适用于对温差变化很小的测量，并用于准确测量至关重要产品的温度。

因此，它不仅用于半导体工业中，用于测试所配备的电路板的性能，而且也适用于在其他需要全方面而准确的非接触式温度测量的工业领域。

数据表和说明书

软件

温度分析软件optris Compact Connect是专门为广泛记录和分析固定式红外测温仪的温度测量数据而开发的。

每个测温仪产品都包含免费的温度分析软件。

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